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ic測(cè)試座的應(yīng)用

點(diǎn)擊:22 更新時(shí)間:2021.02.03 來(lái)源: www.jacquelinegovaert.com

測(cè)試座是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試轉(zhuǎn)接插座。那測(cè)試座可以用來(lái)做什么呢?下面來(lái)帶您了解下:

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1) 來(lái)料檢驗(yàn)

在使用ic前,應(yīng)進(jìn)行質(zhì)量檢查,找出不良品,以提高ic的良品率。ic的質(zhì)量?jī)H僅用肉眼無(wú)法觀察。必須通電檢測(cè)。常用的檢測(cè)如:電流、電壓、電感、電阻和電容的方法不能完全判斷集成電路的質(zhì)量。只有通過(guò)測(cè)試座的應(yīng)用功能運(yùn)行程序才能準(zhǔn)確判斷。

2) 返修檢測(cè)

該測(cè)試座可以節(jié)省維修判斷和分析的時(shí)間,消除缺陷產(chǎn)生的原因,減少主板回流次數(shù),降低維修板報(bào)廢的風(fēng)險(xiǎn)。

3) 燒錄/編程

IC測(cè)試臺(tái)安裝在PCB上后,形成IC燒錄座/IC編程座/IC適配器。通過(guò)連接合適的燒錄設(shè)備,可以對(duì)IC或模塊進(jìn)行編程和燒錄。

4) 老化試驗(yàn)

部件失效主要發(fā)生在生命周期的開始和最后10個(gè)階段。老化是通過(guò)對(duì)元器件的工作環(huán)境和電氣性能進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試,從而使元器件在壽命的前10%內(nèi)加速工作,從而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn),從而及早發(fā)現(xiàn)故障。


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